CSK-IA试块是由IIW试块的基础上改进而来的主要用途有:
1：利用R100mm曲面测定斜探头的入射点和前沿长度;
2：利用50和1.5mm圆孔测定斜探头的折射角;
3：利用试块直角棱边测定斜探头声束轴线的偏离情况;
4：利用25mm厚度测定探伤仪水平线性、垂直线性和动态范围;
5：利用25mm厚 度调整纵波探测范围和扫描速度;
6：利用R50和R100mm曲面调节横波探测范围和扫描速度;
7：利用50、44和40mm三个台阶孔测定斜探头分辨力。
二、材料要求
1.标准试块应使用与待测材料相同或相近的原材料制作，以确保测试结果的准确性。
2.材料应符合相关国家l标准或行业规范的要求，如强度、韧性、耐候性等。
3.在制作过程中，标准试块，应严格控制材料的组成和配比，以保证试块的均匀性和一致性。
三、表面处理.
1.标准试块的表面应光滑、平整，无明显的气泡、裂纹、划痕等缺陷。
2.如有需要，试块表面可进行适当的打磨或抛光处理，以去除表面粗糙度和杂质。
3.对于某些特殊测试，如抗渗性或耐磨性测试，试块表面可能需要特定的处理或涂层。
无损检测试块平底孔直径3怎么换算直径2
我们需要了解无损检测试块的制造标准和精度要求。试块的制造应符合相应的标准，如ASTM标准或ISO标准等。这些标准规定了试块的材料、尺寸、精度等要求，以确保试块的质量和可靠性。在进行换算时，需要了解所使用的试块制造标准，以确保换算结果的准确性。在进行换算时，我们需要根据制造标准中规定的计算方法进行计算。
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