





X 射线荧光光谱仪也是野外现场分析和过程控制分析等方面仪器之一。中文名X射线荧光分析仪检出下限Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm样品形状大460×380mm(高150mm)适用对象塑料/金属/纸/涂料/油墨/液体,在测定微量成分时,由于X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景,致使目标峰的观测比较困难。为了降低或消除背景和特征谱线等的散射X射线对高灵敏度分析的影响,此荧光分析仪配置了4种可自动切换的滤光片,XRF,有效地降低了背景和散射X射线的干扰,调整出具感度的辐射,进一步提高了S/N的比值,从而可以进行更高灵敏度的微量分析。

(这些影响因素在不同情况下将对特征谱线强度的采集产生很大的影响,XRF厂商,甚至造成误判):a)被测样品与标准物质所含元素组成和含量有较大的差异;b)被测样品的表面有镀层或经化学处理;c)测量时间;d)样品的形状;e)样品测量的面积;f)的含量多少;XRF光谱测金仪出来的结果通常需要理解,由于被测的首饰产品不同,使用的仪器不同,检测人员的素质水平不同,对检测结果的接收范围建议在以下范围内选取。

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