





分析原理能量色散X射线荧光分析法分析元素Si~U(Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型)Na~U(任选:φ1.2mm/φ0.1mm切换方式型)
样品室气氛大气X射线管靶材Rh管电压50KV管电流1mAX射线照射径1/3/5mm防护
检测器硅SIPIN探测器光学图像观察倍率15倍
X射线荧光光谱仪(X-ray Fluorescence Spectrometer,简称:XRF光谱仪)X射线荧光光谱仪(X-ray Fluorescence Spectrometer,简称:XRF光谱仪)。
考古学等领域,在某种程度上与原子吸收光谱仪互补,南平XRF光谱仪,减少工厂附设的品管实验室之分析人力投入。 [1] X射线荧光的物理原理编辑 语音当材料暴露在短波长光检查,或伽马射线,XRF光谱仪价格,其组成原子可能发生电离,如果原子是暴露于辐射与能源大于它的电离势,足以驱逐内层轨道的电子,然而这使原子的电子结构不稳定,XRF光谱仪供应,在外轨道的电子会“回补”进入低轨道,以填补遗留下来的洞。在“回补”的过程会释出多余的能源,光子能量是相等两个轨道的能量差异的。因此,物质出的辐射,这是原子的能量特性。

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