主要特点： 1、仪器符合JEDEC JESD51-1和MIL-STD-750E标准法规。 2、仪器兼具JESD51-1定义的静态测试法与动态测试法，能够实时器件瞬态温度响应曲线，其采样率高达1微秒，测试延迟时间高达1微秒，结温分辨率高达0.01℃。 3、能测试稳态热阻，也能测试瞬态热阻抗。 4、的分析法，元器件失效分析，能够分析器件热传导路径上每层结构的热学性能，构建器件等效热学模型，是器件封装工艺、可靠性试验、材料热特性以及接触热阻的强大支持工具。因此被誉为热测试中的“X射线”。 5、可以和热软件FloEFD无缝结合，将实际测试得到的器件热学参数导入软件进行后续优化。
x射线检测/
> 高检测精度φ0.2mm
> 不仅是金属、玻璃、陶瓷等高密度异物，还能检测塑料薄片、泥块、扎带、烟头、昆虫等各种低密度污染物。
> 智能软件定制扩大了产品完整性验证及质量检查范围。
应用灵活/使用安全
> 提供240~600mm宽，110~300mm高通过窗口、按需配置1~108个通道，满足不同产品应用。
> 为袋装/盒装/箱装、瓶装、罐装、散料、无包装等多种形态的产品提供解决方案。
> 融入无射线泄漏安全机制，满足客户安全要求。
失效分析仪器-失效分析-特斯特电子科技公司由苏州特斯特电子科技有限公司提供。苏州特斯特电子科技有限公司位于苏州工业园区新平街388号腾飞创新园23幢5层04室5529C号房间。在市场经济的浪潮中拼博和发展，目前苏州特斯特在分析仪器中享有良好的声誉。苏州特斯特取得全网商盟认证，标志着我们的服务和管理水平达到了一个新的高度。苏州特斯特全体员工愿与各界有识之士共同发展，共创美好未来。