






1) PIL(Processer-In-Loops)处理器在环测试,沈阳预测性维护,目的是测试自动生成的代码写入控制器后,功能实现上是否与模型有偏差。PIL看似无关紧要,但不做重视也会引起一些不良后果(如调度问题、CPU Load,堆栈溢出等)
2) HIL(Harware-In-Loops)硬件在环测试,测试控制器完整系统功能,预测性维护技术,一般会搭建控制器所在系统的测试台架,使用电气元件模拟传感器(如温度)和执行器(如风扇负载)的电气特性,预测性维护公司,验证完整的系统功能。
在基于模型的软件开发环节中规定了MIL/SIL/HIL等多项测试:
1) MIL(Model-In-Loops)既模型在环测试,工业预测性维护,就是验证软件模型是否可以实现软件功能,测试依据是由系统需求分解而来的软件需求。
2) SIL(Software-In-Loops)软件在环测试,对比模型自动生成的C代码和模型本身实现的功能是否一致,使用Simulink自身工具就可以进行Sil测试。
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