




主要特点: 1、仪器符合JEDEC JESD51-1和MIL-STD-750E标准法规。 2、仪器兼具JESD51-1定义的静态测试法与动态测试法,能够实时器件瞬态温度响应曲线,其采样率高达1微秒,测试延迟时间高达1微秒,结温分辨率高达0.01℃。 3、能测试稳态热阻,也能测试瞬态热阻抗。 4、的分析法,能够分析器件热传导路径上每层结构的热学性能,构建器件等效热学模型,是器件封装工艺、可靠性试验、材料热特性以及接触热阻的强大支持工具。因此被誉为热测试中的“X射线”。 5、可以和热软件FloEFD无缝结合,电子元器件失效分析,将实际测试得到的器件热学参数导入软件进行后续优化。

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