电子电气产品中有害物质检测RoHS2.0样品拆分通用要求
General Disassembly Requirements for Testing Hazardous Substances in Electrical and Electronic Products
在电子电气产品有害物质的检测中 ，样品拆分过程对于检测结果具有直接的影响。本标准参考欧盟关于均质材料的定义对样品进行拆分，将样品拆分成终提交检测的单元，然后再进行检测。对于用机械手段难以拆分的非均质材料，按照一定的条件，如质量、体积等符合本标准规定的，可以直接提交检测，不需进一步拆分。本标准用举例和图示的方法对拆分的原则进行说明
光谱分析仪的分析原理是将光源辐射出的待测元素的特征光谱通过样品的蒸汽中待测元素的基态原子所吸收，由发射光谱被减弱的程度，进而求得样品中待测元素的含量。它符合郎珀-比尔定律 A= -lg I/I o= -LgT = KCL 式中I为透射光强度，I0为发射光强度，T为透射比，L为光通过原子化器光程由于L是不变值所以A=KC。物理原理任何元素的原子都是由原子核和绕核运动的电子组成的。
这类标物目前有欧盟研制的用于塑料样品X射线荧光分析的， 代号JSAC0651-55， 圆片状， 规格为4*40 mm;用于塑料样品X射线荧光分析的铅、镉、铬、， 代号JSAC0631-32， 圆片状， 规格为4*40mm;还有我国研制的RoHS检测X射线荧光分析用ABS中的铅、镉、铬、， 代号GBW (E) 081634-081638，EDX-6600D， 圆片状， 规格为4*40 mm;Ro HS检测X荧光分析用PVC中的铅、镉、铬、， 代号GBW (E) 081121-081125， 圆片状， 规格为4*40 mm。
Compass500能量色散ROHS分析仪在快速无损、 现场ROHS筛选分析方法中， 具有不可取代的地位。 无论是从硬件方面还是软件方面， 特别是近几年， 随着微电子技术、 计算机技术、 核技术和材料科学技术的发展， X射线光谱现场ROHS分析仪在以下几方面将得到进一步的发展。
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